Expériences orthogonales de croissance de films GaSb sur Substrat GaAs ont été conçus et réalisés à l’aide d’un système LP-MOCVD (Metal-Chemical Chemical Vapor Deposition). Les cristallinités et les microstructures des films produits ont été comparées pour obtenir les paramètres de croissance optimaux.

Il a été démontré que le film mince optimisé de GaSb avait une largeur totale étroite à la moitié du maximum (358 secondes d'arc) de la courbe (004) rock-rocking, et une surface lisse avec une faible rugosité moyenne-carré d'environ 6 nm ce qui est typique dans le cas des films monocristallins hétéroépitaxiaux. De plus, nous avons étudié les effets de l'épaisseur de couche d'un film mince de GaSb sur la densité de dislocations par spectres Raman. On pense que nos recherches peuvent fournir des informations précieuses pour la fabrication de films GaSb hautement cristallins et peut favoriser la probabilité d'intégration de dispositifs infrarouges moyens fabriqués à partir de dispositifs électroniques grand public performants.

source: iopscience

Pour plus d'informations ou plus sur nos produits de haute qualité comme GaSb Wafer , Substrat GaSb s'il vous plaît visitez notre site Web:semiconductorwafers.net ,

envoyez-nous un email àangel.ye@powerwaywafer.com oupowerwaymaterial@gmail.com .